• 1. 晶圆检测  
  技术领域用于高效生产的检测系统 PVA TePla检测系统专为检测缺陷和表面污染而量身打造，并被广泛应用于半导体行业中，帮助客户有效及时发现企业旗下产品（如：半导体器件）的损坏及缺陷，并在尽早的阶段识别导致缺陷的原因，以便迅速采取相应措施，防止损坏，同时进一步提高生产力。 了解我们的系统  激光检测系统    VPD检测系统缺陷分析…  
• 2. 换能器数据采集  
  换能器数据采集 换能器在XY平面上以网格形式逐行扫描样品，如果样品在Z方向上有弯曲或突出的缺陷或结构，则根据要求进行扫描，然后将电磁脉冲显示为具有特定灰度值的像素。 …  
• 3. 超声波扫描显微镜  
  超声波扫描显微镜 根据超声波的特点，声音在均匀介质中是沿直线传播的，而超声波扫描显微镜原理则是利用声波的反射、散射或吸收特性，来显示不同材料之间的界面（如：夹杂物或缺陷）。因此，超声波可以精准地确定样品内的声学阻力（阻抗），从而以极高的精度来确定误差和不规则。 超声波扫描显微镜的优势…  
• 4. 超声波显微镜的扫描模式  
  超声波显微镜的扫描模式 超声波扫描显微镜是一种无损检测设备，在半导体行业、材料行业、生物医药等多个领域备受欢迎。它具有多种扫描模式（亦称：成像模式），可以对部件的内部结构进行无损分析。这些成像模式特别有助于解释部件的各层和结构，以便进行分层和裂纹检测。如若需要获得丰富详细的见解，可使用不同的成像或扫描模式。 扫描模式概述 A-scan signal with…  
• 5. 等离子体表面处理应用  
  等离子体表面处理应用半导体应用 等离子灰化，有时称为去胶，从晶圆上去除光刻胶。 扫底膜工艺类似去胶，但用于去除沟槽中残留的光刻胶。 工业应用 等离子广泛用于各种工业应用，包括汽车、航空航天、电池、电气、食品包装、电子、燃料电池、玻璃、光学、塑料、包装、造船、航天和纺织等行业。 新技术的应用…  
• 6. SAM 软件  
  联系我们 想要了解更多? 我们将竭诚为您服务! [email protected] 8 PVA TePla 所有超声扫描系统均有直观的图形用户界面，以及在Windows® 10平台上运行的WINSAM 8控制程序控制。WINSAM 8简单易学，同时可支持多个任务。  WINSAM 8可保存和调用设备设置参数…  
• 7. 批量晶圆处理系统  
  联系我们 想要了解更多? 我们将竭诚为您服务! [email protected]批量晶圆处理系统GIGAbatch 310M等离子系统 GIGAbatch 310M等离子系统 是 GIGAbatch 产品系列中的入门级型号。作为最小的系统，GIGAbatch…  
• 8. IoN 系列等离子系统  
  联系我们 想要了解更多？ 我们将竭诚为您服务！  [email protected] PVA TePla 的 IoN 10Q 是一款桌式全功能射频等离子机，可用于批量晶圆去胶和清除残胶，专为实验室和量产使用而设计，最多可处理 25片晶圆，晶圆最大尺寸为 150 毫米。 PVA TePla的IoN…  
• 9. 产品概览  
  我们的产品  
• 10. 晶体直拉法系统  
  技术